膜厚測(cè)試儀
設(shè)備名稱：膜厚測(cè)試儀
設(shè)備型號(hào)：FI-CH
適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T?16921-05 ISO 3497
適用對(duì)象：電鍍鍍層厚度分析、測(cè)量
測(cè)試量級(jí)：精度0.001um
設(shè)備型號(hào)：FI-CH
適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T?16921-05 ISO 3497
適用對(duì)象：電鍍鍍層厚度分析、測(cè)量
測(cè)試量級(jí)：精度0.001um
